特許
J-GLOBAL ID:200903069285427547
応力分布計測方法
発明者:
,
,
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
杉村 暁秀 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-204573
公開番号(公開出願番号):特開2002-022559
出願日: 2000年07月06日
公開日(公表日): 2002年01月23日
要約:
【要約】【課題】 光弾性縞の光強度分布から試料の応力分布を計測する方法であって、前記応力分布を実時間で解析することが可能な応力分布計測方法を提供する。【解決手段】 検光子5を一定方向に角度α毎に連続して回転させる。さらに、1/4波長板4を検光子5と同じ方向に角度2α毎に連続して回転させる。そして、これらの回転を、例えばCCDカメラのフレームレイトと同期するように実施することによって、試料10の面内における主応力方向θ及び主応力差を実時間で解析することができる。
請求項(抜粋):
所定の光源と、1/4波長板と、検光子とを具える光学系を用いて試料に対する光弾性縞を得、この光弾性縞の光強度分布から前記試料の応力分布を計測する方法であって、前記検光子を一定方向に角度α毎に連続的に回転させるとともに、前記1/4波長板を前記検光子の回転方向と同一方向に、前記角度αの整数倍の角度βで前記検光子の回転と同期するようにして連続的に回転させ、前記試料における応力分布を実時間で解析するようにしたことを特徴とする、請求項1に記載の応力分布計測方法。
FI (2件):
G01L 1/00 G
, G01L 1/00 B
引用特許:
審査官引用 (2件)
-
特開昭61-041933
-
特開昭62-132136
前のページに戻る