特許
J-GLOBAL ID:200903069315134825
自動化学分析装置における非直線検量線作成方法
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
作田 康夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-263224
公開番号(公開出願番号):特開2001-083081
出願日: 1999年09月17日
公開日(公表日): 2001年03月30日
要約:
【要約】【課題】標準試料の測定後、装置が最適な近似式を選択して、検量線を作成し、かつ、低濃度域、または、高濃度域の標準試料の希釈倍率を可変して吸光度を測定し、検量線を延長することにより、検体の測定範囲を拡大し、かつ、測定精度の向上、および再検に要する時間を省き、迅速な検査結果の報告が行えるなど、生化学検査の作業効率および信頼性の向上を図ることが目的である。【解決手段】標準試料の測定後、装置が最適な近似式を選択して、検量線を作成し、かつ、低濃度域、または、高濃度域の標準試料の希釈倍率を可変して吸光度を測定し、検量線を延長することにより、検体の測定範囲を拡大し、かつ、正確性など測定精度を向上することができる。
請求項(抜粋):
複数の標準試料の吸光度を測定する手段と、上記吸光度から非直線の検量線を作成する手段と、上記標準試料の濃度、非直線の検量線を作成するための近似式を選択する条件、および実測した上記標準試料の吸光度と近似式により求めた検量線からの吸光度との差を求め、統計処理によるSD算出値とSD許容値を比較判定してチェックする機能を設定する操作部を有する自動化学分析装置において、上記測定した複数の標準試料吸光度から、装置が持つ近似曲線の種類に応じて複数の検量線を作成し、それらの検量線の中から、上記チェック機能により算出SD値の小さい検量線を選択することを特徴とする自動化学分析装置における非直線検量線作成方法。
IPC (2件):
FI (2件):
G01N 21/27 F
, G01N 35/00 Z
Fターム (18件):
2G058GD02
, 2G059AA01
, 2G059BB12
, 2G059CC16
, 2G059DD04
, 2G059DD05
, 2G059EE01
, 2G059EE12
, 2G059GG10
, 2G059KK01
, 2G059MM01
, 2G059MM02
, 2G059MM03
, 2G059MM05
, 2G059MM09
, 2G059MM10
, 2G059MM12
, 2G059PP04
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