特許
J-GLOBAL ID：200903069437761650
分析対象物の脱着およびイオン化のための方法および装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
山本 秀策
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-237646
公開番号（公開出願番号）：特開2000-131285
出願日： 1994年05月27日
公開日（公表日）： 2000年05月12日
要約：
【要約】【課題】 分析対象物検出についてプローブから該分析対象物を脱着可能なエネルギーを放射するエネルギー源に対して該分析対象物を提示するための表面を有する、質量分光計中に取り外し可能に挿入され得るプローブを提供すること。【解決手段】 質量分光計中に取り外し可能に挿入され得るプローブであって、該プローブが、分析対象物検出について該プローブから該分析対象物を脱着可能なエネルギーを放射するエネルギー源に対して該分析対象物を提示するための表面を有し、ここで少なくとも該表面が非金属材料を含む、プローブ。
請求項（抜粋）：
質量分光計中に取り外し可能に挿入され得るプローブであって、該プローブが、分析対象物検出について該プローブから該分析対象物を脱着可能なエネルギーを放射するエネルギー源に対して該分析対象物を提示するための表面を有し、ここで少なくとも該表面が非金属材料を含む、プローブ。
IPC (4件)：
G01N 27/62
, G01N 27/64
, H01J 49/04
, H01J 49/40
G01N 27/62 F
, G01N 27/64 B
, H01J 49/04
, H01J 49/40
