特許
J-GLOBAL ID:200903069437761650
分析対象物の脱着およびイオン化のための方法および装置
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
山本 秀策
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-237646
公開番号(公開出願番号):特開2000-131285
出願日: 1994年05月27日
公開日(公表日): 2000年05月12日
要約:
【要約】【課題】 分析対象物検出についてプローブから該分析対象物を脱着可能なエネルギーを放射するエネルギー源に対して該分析対象物を提示するための表面を有する、質量分光計中に取り外し可能に挿入され得るプローブを提供すること。【解決手段】 質量分光計中に取り外し可能に挿入され得るプローブであって、該プローブが、分析対象物検出について該プローブから該分析対象物を脱着可能なエネルギーを放射するエネルギー源に対して該分析対象物を提示するための表面を有し、ここで少なくとも該表面が非金属材料を含む、プローブ。
請求項(抜粋):
質量分光計中に取り外し可能に挿入され得るプローブであって、該プローブが、分析対象物検出について該プローブから該分析対象物を脱着可能なエネルギーを放射するエネルギー源に対して該分析対象物を提示するための表面を有し、ここで少なくとも該表面が非金属材料を含む、プローブ。
IPC (4件):
G01N 27/62
, G01N 27/64
, H01J 49/04
, H01J 49/40
FI (4件):
G01N 27/62 F
, G01N 27/64 B
, H01J 49/04
, H01J 49/40
引用特許:
審査官引用 (3件)
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特表平4-501189
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特開昭62-284256
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特開平3-089160
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