特許
J-GLOBAL ID:200903069462930696

電気二重層キャパシタの検査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 大川 宏
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2000-343894
公開番号(公開出願番号):特開2002-151366
出願日: 2000年11月10日
公開日(公表日): 2002年05月24日
要約:
【要約】【課題】従来の電気二重層キャパシタの特性の測定・検査方法よりも短時間で特性を測定し、より迅速に検査を行うことができる電気二重層キャパシタの検査方法を提供すること。【解決手段】本発明の電気二重層キャパシタの検査方法は、正極と負極とをセパレータを介して積層した電極体を形成する電極体形成工程S1と、該電極体に電解液を含浸させる電解液含浸工程S4とを有する製造工程で製造される電気二重層キャパシタの検査方法であって、前記電極体形成工程S1と前記電解液含浸工程S4との間に、前記電極体に前記電解液を含浸していない場合における前記電気二重層キャパシタの静電容量である仮静電容量を測定する静電容量測定工程S3を有し、さらに、前記仮静電容量の値に基づいて前記電気二重層キャパシタの性能を判定する判定工程を有することを特徴とする。
請求項(抜粋):
正極と負極とをセパレータを介して積層または巻回により層状に組み付けた電極体を形成する電極体形成工程と、該電極体に電解液を含浸させる電解液含浸工程とを有する製造工程で製造される電気二重層キャパシタの検査方法であって、前記電極体形成工程と前記電解液含浸工程との間に、前記電極体に前記電解液を含浸していない場合における前記電気二重層キャパシタの静電容量である仮静電容量を測定する静電容量測定工程を有し、さらに、前記仮静電容量の値に基づいて前記電気二重層キャパシタの性能を判定する判定工程を有することを特徴とする電気二重層キャパシタの検査方法。
IPC (4件):
H01G 13/00 361 ,  G01R 27/26 ,  G01R 31/00 ,  H01G 9/155
FI (4件):
H01G 13/00 361 C ,  G01R 27/26 C ,  G01R 31/00 ,  H01G 9/00 301 Z
Fターム (27件):
2G028AA02 ,  2G028BB06 ,  2G028CG02 ,  2G028CG07 ,  2G028CG08 ,  2G028DH03 ,  2G028DH05 ,  2G028DH13 ,  2G028DH14 ,  2G028EJ01 ,  2G028EJ07 ,  2G028FK01 ,  2G028FK03 ,  2G028FK06 ,  2G028GL02 ,  2G028HN11 ,  2G036AA03 ,  2G036AA04 ,  2G036AA19 ,  2G036AA25 ,  2G036AA27 ,  2G036BA12 ,  2G036BB02 ,  2G036CA06 ,  5E082AB09 ,  5E082MM35 ,  5E082MM36

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