特許

J-GLOBAL ID：200903069480373850

液晶素子および液晶素子の検査方法

発明者： 庄子 隆徳 ,  小久保 省司
出願人/特許権者： シチズン時計株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-305592
公開番号（公開出願番号）：特開2002-116431
出願日： 2000年10月05日
公開日（公表日）： 2002年04月19日
要約：

【要約】【課題】 液晶素子の寸法精度の向上を図る。【解決手段】 電極などが形成された2枚の基板を用いて製造される液晶素子の検査方法であつて、前記2枚の基板が、上基板と、前記上基板より大きい下基板を備え、前記下基板に設けたパターンにもとづいて、前記上基板の位置を検査する、液晶素子の検査方法。

請求項（抜粋）：

電極などが形成された2枚の基板を用いて製造される液晶素子であって、前記基板は上基板と下基板とからなり、前記下基板は前記上基板の位置を検査するための所定の形状のパターンを有することを特徴とする液晶素子。

IPC (2件)：

G02F 1/1333 500 ,  G02F 1/13 101

FI (2件)：

G02F 1/1333 500 ,  G02F 1/13 101

Fターム (9件)：

2H088FA12 ,  2H088FA16 ,  2H088FA19 ,  2H088FA26 ,  2H088HA01 ,  2H088MA20 ,  2H090JC12 ,  2H090JC18 ,  2H090JD15