特許
J-GLOBAL ID：200903069488606188
基板検査装置及び基板検査方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
青木 輝夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-208351
公開番号（公開出願番号）：特開平8-193958
出願日： 1995年07月24日
公開日（公表日）： 1996年07月30日
要約：
【要約】【目的】 短時間で被検査プリント基板の細部を検査することができる基板検査装置及び基板検査方法を提供する。【構成】 部品Cが実装されたプリント基板Pを撮像して得られる画像データを処理してプリント基板P上の部品Cの実装状態を検査する基板検査装置であって、異なる撮像倍率を選択可能なTVカメラ1と、プリント基板P上の所定の撮像エリアを、同一撮像倍率毎に抽出する抽出手段たる処理部3と、処理部3により同一撮像倍率について抽出された前記所定の撮像エリアを撮像するように制御するCPU3aとで構成している。
請求項（抜粋）：
部品が実装された被検査基板を撮像して得られる画像データを処理して前記被検査基板上の部品の実装状態を検査する基板検査装置において、異なる撮像倍率を選択可能な撮像手段と、前記被検査基板上の所定の撮像エリアを、被検査基板に搭載された各部品の基準特徴パラメータのうち少なくとも部品の座標および部品の識別情報を部品搭載工程の部品搭載データに基づいて使用して、同一撮像倍率毎に抽出する抽出手段と、前記抽出手段により同一撮像倍率について抽出された前記所定の撮像エリアを撮像するように制御する制御手段と、を有することを特徴とする基板検査装置。
IPC (4件)：
G01N 21/88
, G01B 11/24
, H04N 7/18
, H05K 3/00
