特許

J-GLOBAL ID：200903069521138446

半導体放射線検出器及びこれを用いた画像診断装置

発明者： 菅 謙太郎 ,  樋口 和人 ,  宮城 武史 ,  首藤 経世
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (6件)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-189667
公開番号（公開出願番号）：特開2005-026419
出願日： 2003年07月01日
公開日（公表日）： 2005年01月27日
要約：

【課題】複数の半導体素子を隙間無く並べることで、分解能の向上を図った半導体放射線検出器及びこれを用いた画像診断装置を提供すること。【解決手段】放射線の照射によって電荷を生成する性質を有し、平面方向にほぼ隙間無く並設され、上記放射線が入射する表面に参照電極14を備え、裏面に電荷収集電極15を備えた複数の半導体素子13と、上記複数の参照電極14を電気的に接続することで、これら参照電極14を同電位にする複数の配線25とを具備する。【選択図】 図3

請求項（抜粋）：

放射線の照射によって電荷を生成する性質を有し、平面方向にほぼ隙間無く並設され、上記放射線が入射する第1の面に第1の電極を備え、この第1の面の反対側の第2の面に第2の電極を備えた複数の半導体素子と、 上記複数の第1の電極を電気的に接続することで、これら第1の電極を同電位にする導電部材と、 を具備することを特徴とする半導体放射線検出器。

IPC (4件)：

H01L31/09 ,  G01T1/24 ,  H01L27/14 ,  H04N5/32

FI (4件)：

H01L31/00 A ,  G01T1/24 ,  H04N5/32 ,  H01L27/14 D

Fターム (35件)：

2G088EE01 ,  2G088FF02 ,  2G088FF04 ,  2G088FF15 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ09 ,  2G088JJ13 ,  2G088JJ31 ,  2G088JJ33 ,  2G088JJ37 ,  2G088LL12 ,  2G088LL13 ,  2G088LL15 ,  4M118BA04 ,  4M118HA02 ,  4M118HA11 ,  4M118HA21 ,  4M118HA24 ,  4M118HA25 ,  4M118HA27 ,  4M118HA29 ,  4M118HA31 ,  5C024AX12 ,  5C024AX16 ,  5C024CX37 ,  5F088AA11 ,  5F088AB09 ,  5F088BB03 ,  5F088BB07 ,  5F088EA04 ,  5F088FA09 ,  5F088JA03 ,  5F088JA20 ,  5F088LA08