特許

J-GLOBAL ID：200903069535392841

回帰的対応点探索方法、これを利用した三次元位置計測方法、これらの装置、並びに、記録媒体

発明者： 藤原 伸行 ,  庭川 誠
出願人/特許権者： 株式会社明電舎
代理人 (1件)： 光石 俊郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-308482
公開番号（公開出願番号）：特開2001-124519
出願日： 1999年10月29日
公開日（公表日）： 2001年05月11日
要約：

【要約】【課題】 対応点探索における対応点間違いを排除する。【解決手段】 2つの画像1、2のうち、一方の画像1を元画像、もう一方の画像2を参照画像とし、元画像1の計測位置3にてパッチを設定し、このパッチを用いて参照画像2のエピポーラライン7で対応点4を検出する。その後、一方の画像1を参照画像、もう一方の画像2を元画像に設定し直し、先に検出した対応点4を設定し直した元画像2上の計測位置(回帰)5として、パッチを設定し、設定し直した参照画像1についてエピポーラライン8上で回帰的な対応点探索を行い、回帰対応点6を検出する。そして、計測位置3と回帰対応点6との回帰距離を調べ、この回帰距離が予め設定しておいた範囲内である場合にのみ、対応点4が間違いなく得られたとものする。

請求項（抜粋）：

元画像の計測位置から参照画像のエピポーララインを設定し、元画像、参照画像、計測位置及び参照画像のエピポーララインから対応点を検出し、元画像を参照画像に、参照画像を元画像に入れ換え設定し、上記対応点を、計測位置(以降「計測位置(回帰)」と呼ぶ)として、入れ換え設定後の元画像に設定し、計測位置(回帰)とカメラデータから入れ換え設定後の参照画像のエピポーララインを計算し、入れ換え設定後の元画像及び参照画像、並びに、計測位置(回帰)及び入れ換え設定後の参照画像のエピポーララインから対応点(以降「回帰対応点」と呼ぶ)を検出し、計測位置と回帰対応点との距離(以降「回帰距離」と呼ぶ)を計算し、回帰距離を基に、上記対応点が適切か不適切か判断することを特徴とする回帰的対応点探索方法。

IPC (4件)：

G01B 11/00 ,  G01C 3/06 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/60

FI (5件)：

G01B 11/00 H ,  G01C 3/06 V ,  G06F 15/62 415 ,  G06F 15/70 350 B ,  G06F 15/70 350 J

Fターム (46件)：

2F065AA04 ,  2F065DD06 ,  2F065FF05 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065QQ00 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ23 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ28 ,  2F065QQ32 ,  2F065QQ36 ,  2F065QQ38 ,  2F065QQ41 ,  2F112AC03 ,  2F112BA06 ,  2F112CA08 ,  2F112CA12 ,  2F112FA00 ,  2F112FA21 ,  2F112FA36 ,  2F112FA38 ,  2F112FA41 ,  2F112FA45 ,  5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB13 ,  5B057CB17 ,  5B057CC03 ,  5B057CD05 ,  5B057DA07 ,  5B057DB02 ,  5B057DC05 ,  5B057DC34 ,  5B057DC36 ,  5L096AA09 ,  5L096DA02 ,  5L096EA03 ,  5L096EA35 ,  5L096FA34 ,  5L096FA46 ,  5L096FA66 ,  5L096FA69 ,  5L096HA08