特許

J-GLOBAL ID：200903069538031750

光計測装置

発明者： 平林 由紀子 ,  川口 文男 ,  山下 優一 ,  牧 敦
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-185288
公開番号（公開出願番号）：特開平9-028698
出願日： 1995年07月21日
公開日（公表日）： 1997年02月04日
要約：

【要約】【構成】装置は光源1と、ハーフミラー2とレンズ3からなる第一の光学系と、レンズ7及び9とピンホール8からなる第二の光学系と、偏光器6及び10と、検出器11と、それら各部の制御及びデータの記憶・演算を行うコンピュータ12と、表示部13からなる。光源1から発した光は偏光器6を通過し、第一の光学系により散乱体試料4中に導かれ焦点5で散乱され、再び第一の光学系を経由して第二の光学系および偏光器10に送られ、特定の振動方向を持つ偏光が検出器11で計測される。【効果】多重散乱光が除去されるため、散乱体中の特定のスポット内に存在する物質濃度の計測が可能となり、さらにスポットの走査により高解像度の二次元または三次元濃度分布画像が得られる。

請求項（抜粋）：

試料中の任意の位置に焦点を結ぶ第一の光学系と、有限面積を持つピンホール上に焦点を結ぶ第二の光学系と、光源と、検出器とを持つ光計測装置において、上記第一の光学系に偏光を導入し、上記偏光を上記第一の光学系により試料中に導いて焦点を結ばせ、上記焦点で散乱された光を再び上記第一の光学系に導き、上記偏光を上記第二の光学系に導き有限面積を持つピンホール上に焦点を結ばせ、上記ピンホールを通過した光のうち、特定の振動方向を持つ偏光を計測することを特徴とする光計測装置。

IPC (2件)：

A61B 5/14 310 ,  G01N 21/64

FI (2件)：

A61B 5/14 310 ,  G01N 21/64 E