特許

J-GLOBAL ID：200903069550705040

X線撮像装置

発明者： 米山 明男 ,  瀬谷 英一
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-096922
公開番号（公開出願番号）：特開平10-288587
出願日： 1997年04月15日
公開日（公表日）： 1998年10月27日
要約：

【要約】【課題】 X線撮像装置の測定時間を短縮すること。【解決手段】 X線撮像装置に、被写体の組成及び厚さから位相コントラスト像の測定時間が最小となる波長を計算する計算機13と、X線源と上記X線干渉計の間に設けられた波長選択機能を有する分光部2と、上記X線干渉計及び上記X線検出器を上記分光部に対して回転させる回転機構4、14及び15を付加することで、位相コントラスト像の測定時間を短縮する。【効果】 被写体の組成及び厚さに応じた波長で位相コントラスト像の測定を行うことができ、測定時間を短縮することができる。

請求項（抜粋）：

X線を発生するX線源と、上記X線を入射光とし各光学素子が単結晶材料からなるマッハツェンダー型X線干渉計と、上記X線干渉計から出射するX線を検出する検出器を備えたX線撮像装置において、上記被写体の組成及び厚さから用いるべき波長を計算する計算機と、上記X線源と上記X線干渉計の間に設けられた波長選択機能を有する分光部と、上記X線干渉計及び上記X線検出器を上記分光部に対して回転させる回転機構を付加したことを特徴とするX線撮像装置。

IPC (3件)：

G01N 23/02 ,  G01N 23/04 ,  G21K 1/06

FI (3件)：

G01N 23/02 ,  G01N 23/04 ,  G21K 1/06 F