テスト機能を有する集積回路

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：西教圭一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-009153
公開番号（公開出願番号）：特開平5-196700
出願日： 1992年01月22日
公開日（公表日）： 1993年08月06日
要約：

【要約】【目的】自己バーンイン機能を有する集積回路の信頼性を向上する。【構成】テスト用リードオンリメモリ6に記憶されているプログラムに基づいてバーンインを行う際、特性データの変動やエラー情報などをE2PROM5に記憶する。【効果】特性データの変動があったものは、将来的に特性データが変動するおそれがあるため不良品とみなされ、集積回路の信頼性が向上する。

請求項（抜粋）：

書き込み/読み出し可能な記憶手段と、当該記憶手段を含む構成要素に対するテストを繰り返し行うテスト手段と、テストの実行期間を含む期間にわたり、テスト結果を順次的に記憶するテスト結果記憶手段とを備え、前記テスト結果記憶手段に記憶されたテスト結果の時間的変化に基づいて不良の有無の判定を行うことを特徴とするテスト機能を有する集積回路。

IPC (2件)：

G01R 31/28 , H01L 21/66

引用特許：

審査官引用 (1件)

放電灯点灯装置
公報種別：公開公報出願番号：特願平3-325408 出願人：テイーデイーケイ株式会社

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