特許

J-GLOBAL ID：200903069594964387

ゴムの架橋度の評価方法及びそれを利用したゴムの製造方法

発明者： 胡田 信哉 ,  中村 祥子
出願人/特許権者： 旭化成工業株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-255050
公開番号（公開出願番号）：特開平8-122284
出願日： 1994年10月20日
公開日（公表日）： 1996年05月17日
要約：

【要約】【構成】 標準とするゴム及び評価の対象とするゴムについて、各々、核磁気緩和時間の短い成分の比率又は核磁気緩和時間の長い成分の比率、核磁気緩和時間の短い成分の運動性の指標、核磁気緩和時間の長い成分の運動性の指標のうちいずれか2つ以上を測定し、標準とするゴムの測定値からのずれを測ることでゴムの架橋度を評価する方法及びそれを利用したゴムの製造方法。【目的】 ゴムおよびゴムを含む材料の品質管理において、架橋度を分子鎖レベルで評価することが可能な評価方法及びそれを利用したゴムの製造方法の提供。

請求項（抜粋）：

標準とするゴム及び評価の対象とするゴムについて、各々、核磁気緩和時間の短い成分の比率又は核磁気緩和時間の長い成分の比率、核磁気緩和時間の短い成分の運動性の指標、核磁気緩和時間の長い成分の運動性の指標のうちいずれか2つ以上を測定し、標準とするゴムの測定値からのずれを測ることでゴムの架橋度を評価する方法。

IPC (3件)：

G01N 24/08 ,  C08L 21/00 LAY ,  G01N 33/44

FI (2件)：

G01N 24/08 510 L ,  G01N 24/08 510 P