特許

J-GLOBAL ID：200903069595313070

光パルス試験器

発明者： 泉田 史 ,  古川 眞一 ,  三川 泉 ,  小山田 弥平 ,  山本 文彦
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 古谷 史旺
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-040264
公開番号（公開出願番号）：特開平6-249750
出願日： 1993年03月01日
公開日（公表日）： 1994年09月09日
要約：

【要約】【目的】 光信号の伝送媒体である光ファイバの光損失その他の特性を試験する光パルス試験器に関し、簡単な構成で、主要な試験波長の高出力光パルスを発生でき、高ダイナミックレンジを達成することを目的とする。【構成】 光パルスを被試験光ファイバに繰り返し送出する光パルス発生手段と、被試験光ファイバからの反射光および後方散乱光を受光する光ファイバ特性測定手段とを備えた光パルス試験器において、光パルス発生手段は、励起光源から出射された励起光を光増幅媒体および所定の周期でオンオフする第1光スイッチを介して周回させ、そのリング長に応じたパルス幅を有する光パルスを発生させ、光分岐器を介して外部に分岐出力するQスイッチリングレーザと、光分岐器から分岐出力された光パルスを取り込み、そのピークに合わせたタイミングで整形して出力する第2光スイッチとを備える。

請求項（抜粋）：

所定周期ごとに所定波長および所定パルス幅の光パルスを発生し、被試験光ファイバに繰り返し送出する光パルス発生手段と、前記被試験光ファイバから戻ってくる前記光パルスに対する反射光および後方散乱光を受光し、所定の信号処理を施して得られた前記被試験光ファイバの特性を示す情報を表示する光ファイバ特性測定手段とを備えた光パルス試験器において、前記光パルス発生手段は、励起光源から出射された励起光を光増幅媒体および所定の周期でオンオフする第1光スイッチを介して周回させ、そのリング長に応じたパルス幅を有する光パルスを発生させ、光分岐器を介して外部に分岐出力するQスイッチリングレーザと、前記光分岐器から分岐出力された光パルスを取り込み、そのピークに合わせたタイミングで整形して出力する第2光スイッチとを備えたことを特徴とする光パルス試験器。

IPC (2件)：

G01M 11/02 ,  G01M 11/00

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開昭61-054421
  
• 特開昭63-082865
  
• 特開平4-357892
  
• 特開昭63-041272