特許
J-GLOBAL ID：200903069596786052
光ピックアップ装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小池 晃 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-093390
公開番号（公開出願番号）：特開平6-302044
出願日： 1993年04月20日
公開日（公表日）： 1994年10月28日
要約：
【要約】【目的】 レーザ光源からの出射光を記録面に照射し、上記記録面からの反射光のうちの所定の偏光成分を光検出手段により検出する光ピックアップ装置において、構成部品点数を削減して小型化を図る。【構成】 光学ブロック2のビームスプリッタ膜25と偏光ビームスプリッタ膜27を通過したレーザ光源1の出射光を複合旋光板4と対物レンズ5を介して光磁気ディスク10の記録面に照射し、その反射光を、上記複合旋光板4を介して上記光学ブロック2に導き光検出器6,7で検出する。また、上記ビームスプリッタ膜25により反射されたレーザ光源1の出射光を偏光ビームスプリッタ膜26を介して光検出素子3で検出する。
請求項（抜粋）：
レーザ光源からの出射光を記録面に照射し、上記記録面からの反射光のうちの所定の偏光成分を光検出手段により検出する光ピックアップ装置において、上記レーザ光源からの出射光と上記記録面からの反射光が入射されるビームスプリッタ膜と、上記ビームスプリッタ膜により反射された上記レーザ光源からの出射光が入射される第1の偏光ビームスプリッタ膜と、上記ビームスプリッタ膜を通過した上記レーザ光源からの出射光と上記記録面からの反射光と上記ビームスプリッタ膜により反射された上記記録面からの反射光が入射される第2の偏光ビームスプリッタ膜とが互いに平行に形成されてなる光学ブロックと、上記第1の偏光ビームスプリッタ膜を通過した上記レーザ光源からの出射光が入射される光量制御用の光検出素子と、上記第2の偏光ビームスプリッタ膜により反射された上記記録面からの反射光が入射される第1の光検出素子と、上記ビームスプリッタ膜により反射され上記第2の偏光ビームスプリッタ膜を通過した上記記録面からの反射光が入射される第2の光検出素子と、上記ビームスプリッタ膜及び上記第2の偏光ビームスプリッタ膜を通過した上記レーザ光源からの出射光と上記記録面からの反射光が入射され、光軸を含む平面で分割された一方の領域を通過する光と上記一方の領域を通過する光とを所定の角度だけ異なる方向に旋光させる複合旋光板と、上記複合旋光板と上記記録面との間に設けられた対物レンズと、上記第1の光検出素子と第2の光検出素子により検出出力の差分としてフォーカスエラー情報を出力することを特徴とする光ピックアップ装置。
IPC (3件)：
G11B 11/10
, G11B 7/125
, G11B 7/135
