特許

J-GLOBAL ID：200903069604431234

ヒューズの断路を認識するための方法および装置

発明者： クラール、ユルゲン
出願人/特許権者： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-581726
公開番号（公開出願番号）：特表2002-529904
出願日： 1999年10月29日
公開日（公表日）： 2002年09月10日
要約：

【要約】本発明はヒューズ(17、18、19)、特に半導体素子(14、15、16)と直列に接続されている、回転軸(22)の上に配置されているヒューズの断路を認識するための方法および装置に関する。本発明によれば、ヒューズの断路の際に生ずる電磁的パルス(33)が、ヒューズの付近に配置されているアンテナ(20、30、46)により捕捉される。

請求項（抜粋）：

ヒューズ(17、18、19)、特に半導体素子(14、15、16)と直列に接続され、回転軸(22)の上に配置されているヒューズ(17、18、19)の断路を認識するための方法において、 ヒューズ(17、18、19)および場合によっては存在している別の構成部分(47)から発せられる電磁的パルス(33、34)を捕捉し、かつヒューズ(17、18、19)の断路の際に生ずる電磁的パルス(33)であるか否かを判断することを特徴とするヒューズの断路を認識するための方法。

IPC (4件)：

H01H 85/30 ,  G01R 31/02 ,  H02H 3/00 ,  H02H 3/04

FI (4件)：

H01H 85/30 ,  G01R 31/02 ,  H02H 3/00 L ,  H02H 3/04 D

Fターム (9件)：

2G014AA02 ,  2G014AB46 ,  2G014AC18 ,  5G042AA03 ,  5G042AA15 ,  5G042DD02 ,  5G502AA18 ,  5G502EE04 ,  5G502EE10