特許

J-GLOBAL ID：200903069626221292

疵判定方法及び疵判定装置

発明者： 高橋 嘉治
出願人/特許権者： 株式会社クボタ
代理人 (1件)： 河野 登夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-025570
公開番号（公開出願番号）：特開2000-222579
出願日： 1999年02月02日
公開日（公表日）： 2000年08月11日
要約：

【要約】【課題】 信頼性が高い疵判定方法及びその実施に使用する装置を提供する。【解決手段】 判定部8は被判定物Sの像を構成する画素の平均輝度Hを算出し、各係数p1 〜p3 と平均輝度Hとをそれぞれ乗算して、第1〜第3閾輝度を生成する。判定部8は、被判定物Sの像を構成する各画素の輝度と第1〜第3閾輝度とをそれぞれ比較し、各閾輝度別に、その閾輝度より低い輝度の総画素数A1 〜A3 をそれぞれ算出する。判定部8は、(1)式に総画素数A1 〜A3 を代入して評価値Kを求め、評価値Kが属する評価値レベルに対応する疵等級を、被判定物Sの疵等級に決定する。K=α1 ・A1 +α2 ・A2 +α3 ・A3 ...(1)

請求項（抜粋）：

被判定物を撮像して得た画像から被判定物の像を抽出し、得られた被判定物の像を構成する複数の画素の輝度に基づいて、被判定物の疵の程度を判定する方法において、前記各画素の輝度の平均値を求め、得られた平均値及び予め定めた複数の係数を用いて、前記平均値より低い輝度である複数の閾値を生成し、生成した各閾値別に、前記各画素において閾値より低い輝度の画素の数をそれぞれ算出し、得られた複数の画素の数及び前記各係数に応じて予め定めた重みを用いて評価値を求め、得られた評価値に基づいて被判定物の疵の程度を判定することを特徴とする疵判定方法。

IPC (3件)：

G06T 7/00 ,  G01N 21/85 ,  G01N 21/88

FI (3件)：

G06F 15/62 400 ,  G01N 21/85 A ,  G01N 21/88 J

Fターム (27件)：

2G051AA05 ,  2G051AB02 ,  2G051BA01 ,  2G051BA20 ,  2G051CA03 ,  2G051CA04 ,  2G051DA01 ,  2G051DA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EA12 ,  2G051EA14 ,  2G051EC01 ,  2G051EC03 ,  5B057AA15 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB16 ,  5B057CC03 ,  5B057CE09 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5B057DC36