特許

J-GLOBAL ID：200903069630744160

容器のヒートシール状態検査方法及び装置

発明者： 遠藤 慎一 ,  土谷 展也
出願人/特許権者： 花王株式会社
代理人 (1件)： 塩川 修治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-321384
公開番号（公開出願番号）：特開平6-144416
出願日： 1992年11月06日
公開日（公表日）： 1994年05月24日
要約：

【要約】【目的】 容器に接触することなく、高い検査精度、検査速度にてヒートシール状態を検査すること。【構成】 容器Tのヒートシール状態検査方法において、ヒートシール部のシール幅方向に沿う各点の温度を赤外線放射表面温度計20により非接触で検出し、検出温度分布が予め定めた良品の適正温度分布から所定値以上異なるときに不良と判定するもの。

請求項（抜粋）：

容器を構成する包装材をシール機にてヒートシールした後、ヒートシール部の不良の有無を検査する容器のヒートシール状態検査方法において、ヒートシール部のシール幅方向に沿う各点の温度を温度センサにより非接触で検出し、このシール幅方向に沿う検出温度分布を予め定められた良品の適正温度分布と比較し、検出温度分布が適正温度分布から所定値以外となるときに不良とすることを特徴とする容器のヒートシール状態検査方法。