特許
J-GLOBAL ID：200903069647707551
交流加熱による熱拡散率の測定方法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
井島 藤治 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-278513
公開番号（公開出願番号）：特開平6-130012
出願日： 1992年10月16日
公開日（公表日）： 1994年05月13日
要約：
【要約】【目的】 高分子化合物やセラミックスなどの難導電性物質の熱拡散率を、交流温度波を用いた測定法により精度良く求める。【構成】 薄い被測定試料の両面に導電性の薄膜を形成あるいは密着させて、該薄膜の一方に電流を流すことによってそのジュール熱により発熱する交流熱源とし、前記被測定試料の前記交流熱源に所定の変調周波数で変調を加えた交流電流を流して交流発熱させ、該被測定試料の対向する他の片面に該交流発熱に対応する応答曲線を発生させ、該応答曲線の位相と前記変調周波数の関係より、該被測定試料の熱拡散率を測定する熱拡散率の測定方法および装置。
請求項（抜粋）：
薄い被測定試料の厚み方向の熱拡散率の測定方法であって、該薄い被測定試料の両面に導電性の薄膜を形成あるいは密着させて、前記薄膜の一方を電流を流すことによってそのジュール熱により発熱する交流熱源とし、前記薄膜の他方を温度によりその抵抗値が変化することを利用する抵抗式温度計とした測定系を用い、前記被測定試料の前記交流熱源に所定の変調周波数で変調を加えた交流電流を流して交流発熱させることにより前記抵抗式温度計に前記交流発熱に対応する温度変化を起こさせ、該温度変化の位相を1点の変調周波数について測定し、前記交流熱源の温度変化と前記抵抗式温度計により測定された温度変化との位相差と、前記変調周波数との相関関係から前記被測定試料の厚み方向の熱拡散率を求める薄い被測定試料の熱拡散率の測定方法。
引用特許：
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