位相コントラストX線撮像装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：梶良之 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-203219
公開番号（公開出願番号）：特開2003-010162
出願日： 2001年07月04日
公開日（公表日）： 2003年01月14日
要約：

【要約】【課題】広い視野を一度に観測することができ、視野範囲内でいずれの方向にも空間分解能が優れた位相コントラストX線撮像装置を提供するものである。【解決手段】本発明の位相コントラストX線撮像装置は、X線源1 と、X線源1 からのビームを直交する2 方向にビーム幅を広げる単色器群4,6 と、単色器群4,6 で拡大され被写体8 を透過したX線の屈折角度を分析する角度分析器10と、角度分析器10を透過又は/及び反射したX線を検出するX線検出器11を備えている。

請求項（抜粋）：

X線源と、該X線源からのビームを直交する2 方向にビーム幅を広げる単色器群と、該単色器群で拡大され被写体を透過したX線の屈折角度を分析する角度分析器と、該角度分析器を透過又は/及び反射したX線を検出するX線検出器を備えている位相コントラストX線撮像装置。【請求項2 】上記角度分析器が、被写体に照射されるX線の進行方向軸の廻りに回転可能としたことを特徴とする請求項1 に記載の位相コントラストX線撮像装置。【請求項3 】上記角度分析器が、角度分析器の結晶面の法線の廻りに回転可能としたことを特徴とする請求項1 乃至2 のいずれかに記載の位相コントラストX線撮像装置。【請求項4 】上記角度分析器が、被写体に照射されるX線の進行方向に直交する方向の軸の廻りに回転可能としたことを特徴とする請求項1 乃至3 に記載の位相コントラストX線撮像装置。

IPC (4件)：

A61B 6/00 300 , A61B 6/00 330 , G01N 23/04 , G01N 23/20

FI (4件)：

A61B 6/00 300 J , A61B 6/00 330 Z , G01N 23/04 , G01N 23/20

Fターム (20件)：

2G001AA01 , 2G001BA05 , 2G001BA11 , 2G001BA18 , 2G001CA01 , 2G001DA09 , 2G001GA01 , 2G001GA19 , 2G001HA13 , 4C093AA30 , 4C093CA04 , 4C093EA02 , 4C093EA20 , 4C093FA15 , 4C093FA17 , 4C093FA20 , 4C093FA55 , 4C093FF33 , 4C093FF34 , 4C093FF35

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