特許

J-GLOBAL ID：200903069693029908

ガラス電極測定セルで試験溶液のpH値を測定し、同時に、測定セルを検量する方法

発明者： ヴェルナー・メルツァー
出願人/特許権者： ヘキスト・アクチェンゲゼルシャフト
代理人 (1件)： 湯浅 恭三 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-011522
公開番号（公開出願番号）：特開平6-242072
出願日： 1994年02月03日
公開日（公表日）： 1994年09月02日
要約：

【要約】【目的】 ガラス電極測定セルで試験溶液のpH値を測定し、同時に、測定セルを検量する方法であり、pHガラス電極と参照電極とで発生する電位が、温度補償と測定セル勾配微分とを備えたpHメータで処理される方法において、測定セルを、常時、測定点の固定位置に保持する方法を提供する。【構成】 ガラス電極測定セルで試験溶液のpH値を測定し、同時に、測定セルを検量する方法において、pHガラス電極と参照電極とで発生する電位を温度補償と測定セル勾配微分とを備えたpHメータで処理する。参照電極(4)と、異なる内部参照溶液(6,7)を有する2つのpHガラス電極(2,3)とからの電位を第1のpHメータ(8)および第2のpHメータ(9)で処理する。測定セル勾配は、処理した電位から導かれ、測定される値は、勾配とともに、同時に導かれる。

請求項（抜粋）：

ガラス電極測定セルで試験溶液のpH値を測定し、同時に、測定セルを検量する方法であり、この方法において、pHガラス電極と参照電極とで発生する電位が温度補償と測定セル勾配微分とを備えたpHメータで処理される方法であって、参照電極(4)と、異なる内部参照溶液(6,7)を有する2つのpHガラス電極(2,3)とからの電位が、第1のpHメータ(8)と第2のpHメータとで処理され、測定セル勾配が、処理された電位から導かれ、測定される値が、この勾配とともに、同時に導かれる方法。

IPC (3件)：

G01N 27/416 ,  G01N 27/36 ,  G01N 27/26 381

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 特開昭57-103044
  
• 特開昭49-095688
  
• 特開昭57-103044
  
• 特開昭49-095688
  

審査官引用 (4件)

• 特開昭57-103044
  
• 特開昭57-103044
  
• 特開昭49-095688
  
• 特開昭49-095688