特許
J-GLOBAL ID：200903069766575426
プリント基板の外観検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
下田 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-024614
公開番号（公開出願番号）：特開平8-193815
出願日： 1995年01月18日
公開日（公表日）： 1996年07月30日
要約：
【要約】【目的】 構造の簡略化によって、装置の小型軽量化及びコストダウンを図る。【構成】 プリント基板PをX方向に移送する基板移送機構部2と、プリント基板Pの表面上方及び裏面下方に配することにより、プリント基板Pの表面Pf及び裏面Prの状態を検出する反射型光学センサ4a,4bを有する一対の検出ヘッド部3a,3bと、無端ベルト5の内側空間Sにプリント基板Pを通過させるとともに、無端ベルト5によって各検出ヘッド部3a...をY方向に移動させるヘッド移動機構部6と、各検出ヘッド部3a...をプリント基板Pに対して予め設定した移動パターンにより相対移動させる制御部7と、検出ヘッド部3a...から得る検出結果に対して判定を行う検査機能部8を備える。
請求項（抜粋）：
プリント基板の端部を支持してプリント基板をX方向に移送する基板移送機構部と、移送されるプリント基板の表面上方及び裏面下方に配することにより、プリント基板の表面及び裏面の状態を検出する反射型光学センサを有する一対の検出ヘッド部と、X方向に対して直交する方向に移動する無端ベルトを備え、この無端ベルトの内側空間にプリント基板を通過させるとともに、無端ベルトによって各検出ヘッド部をY方向に移動させるヘッド移動機構部と、基板移送機構部及びヘッド移動機構部を制御して、各検出ヘッド部をプリント基板に対して予め設定した移動パターンにより相対移動させる制御部と、移動パターンに基づく所定の検査位置における検出ヘッド部から得る検出結果に対して判定を行う検査機能部を備えることを特徴とするプリント基板の外観検査装置。
IPC (4件)：
G01B 11/24
, G01N 21/88
, G06T 7/00
, H05K 13/08
