特許

J-GLOBAL ID：200903069772861856

光電子機器

発明者： 高野 自平
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (1件)： 宮田 金雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-049231
公開番号（公開出願番号）：特開2001-244553
出願日： 2000年02月25日
公開日（公表日）： 2001年09月07日
要約：

【要約】【課題】 サーミスタで検知した温度を基にペルチェ素子の制御を行う光半導体素子モジュールの場合、サーミスタが温度を検知してペルチェ素子の制御を行うまでにタイムロスが発生するため、光源である半導体レーザーの発信波長を高精度に制御できず、波長が高密度に多重化されたWDMシステムにて使用した場合、発信波長のずれが原因で最悪の場合には波長が混信するなどの問題があった。【解決手段】 半導体レーザー近傍のヒートシンク部分に歪検知器を設け、検知したヒートシンクの歪量を比較判定する比較回路と、ペルチェ素子を制御駆動するペルチェ駆動回路とからなる制御回路を設けて配置したものである。

請求項（抜粋）：

半導体レーザーの歪みを検出し、当該検出結果により上記半導体レーザーを温度制御するようにしたことを特徴とする光電子機器。

IPC (6件)：

H01S 5/068 ,  H01S 5/022 ,  H01S 5/024 ,  H04B 10/14 ,  H04B 10/06 ,  H04B 10/04

FI (4件)：

H01S 5/068 ,  H01S 5/022 ,  H01S 5/024 ,  H04B 9/00 S

Fターム (16件)：

5F073AB21 ,  5F073AB27 ,  5F073AB28 ,  5F073AB30 ,  5F073BA02 ,  5F073EA03 ,  5F073FA02 ,  5F073FA06 ,  5F073FA11 ,  5F073FA25 ,  5F073GA11 ,  5F073GA18 ,  5F073GA21 ,  5F073GA38 ,  5K002BA13 ,  5K002CA11