特許
J-GLOBAL ID：200903069781337256
分析スライド用測定システム、情報記録磁気カード及び分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 稔 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-063605
公開番号（公開出願番号）：特開平5-264535
出願日： 1992年03月19日
公開日（公表日）： 1993年10月12日
要約：
【要約】【目的】 ロット毎の補正情報を含むスライド測定に関する全情報を磁気カードに入力し、その情報に基づいてスライド測定を行うできる操作が簡単で、確実なシステムを提供すること。【構成】 本発明はスライド容器(箱)毎に1枚添付されている磁気カードを使用する。磁気カードには、測定に必要な情報、即ち点着液量、測定波長、データ処理方式、基本検量線、定量域、表示範囲、表示桁数、表示単位等をコード化した固定情報と、ロット毎の測定値の変動を補正するためのロット番号、項目コード、項目名、補正係数等の変動情報が記録されており、この磁気カードを用いて固定情報及び変動情報を入力する。これによって、変動情報のみでなく固定情報が変わった場合でも、ユーザーは簡単、且つ確実に分析装置の操作を可能にする。
請求項（抜粋）：
予め定められた測定対象成分用の試薬が含まれる少なくとも1つの層を有する分析フィルムを内蔵した分析スライドに対応する基本検量線を含む固定情報と分析フィルムのロット毎の測定値の差異を補正するための変動情報とを含む、前記測定対象成分の定量測定に必要な情報が磁気的機械可読形式で記録されている磁気カードから、前記の全情報又はその一部の情報を読み込むためのカードリーダーと、読み込まれた前記情報により基本検量線から前記分析フィルムのロットに対応した検量線を生成して前記測定対象成分の濃度値又は活性値を求めるための演算を行い、結果を表示する分析装置本体、とから成ることを特徴とする分析スライド用測定システム。
IPC (5件)：
G01N 31/22 121
, G01N 21/75
, G01N 21/78
, G01N 35/00
, G01N 35/02
