特許
J-GLOBAL ID：200903069801708400
サイズ排除クロマトグラフ分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-098066
公開番号（公開出願番号）：特開平8-271494
出願日： 1995年03月29日
公開日（公表日）： 1996年10月18日
要約：
【要約】【目的】 高分子化合物の分子量による屈折率の変化を補償し、正しい分析結果が得られるようにする。【構成】 予め溶質成分の分子量と示差屈折計測定値との関係を実測し、メモリに格納しておく(S4)。分析目的試料について得られたクロマトグラムよりピークを検出し(S13)、各ピークのピーク応答量(面積又は高さ)を検出した(S14)後、メモリに格納された該関係に基づいてピーク応答量を補正する(S16)。
請求項（抜粋）：
サイズ排除充填剤を充填したカラムからの溶出液を示差屈折計で測定することによりクロマトグラムを作成するサイズ排除クロマトグラフ分析装置において、a)予め実測された溶質成分の分子量と示差屈折計測定値との関係を格納するメモリと、b)分析目的試料について得られたクロマトグラムよりピークを検出するピーク検出手段と、c)検出された各ピークのピーク応答量を検出するピーク応答量検出手段と、d)検出されたピーク応答量を上記メモリに格納された該関係に基づいて補正するピーク応答量補正手段と、を備えることを特徴とするサイズ排除クロマトグラフ分析装置。
IPC (5件)：
G01N 30/74
, G01N 21/41
, G01N 30/02
, G01N 30/48
, G01N 30/86
G01N 30/74 Z
, G01N 21/41 B
, G01N 30/02 Z
, G01N 30/48 Z
, G01N 30/86 G
