半導体装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：京本直樹 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-040213
公開番号（公開出願番号）：特開平8-235898
出願日： 1995年02月28日
公開日（公表日）： 1996年09月13日
要約：

【要約】【目的】並列出力されるデータのビット数が増大しても、並列検査できる台数を増して検査効率の向上をはかる。【構成】内部回路1a〜1dと出力段回路2a〜2dとの間に、内部テスト信号TSTiがアクティブレベルのとき切換タイミング信号SA,SA*,SB,SB*に従って内部回路1a〜1dからのデータDT1〜DT4を順次出力段回路2aに伝達すると共に、出力段回路2b〜2dの出力インピーダンスを高インピーダンス状態とする出力データ切換回路3を設ける。内部テスト信号TSTiがアクティブレベルのとき所定のタイミングで切換タイミング信号(SA等)を発生する切換タイミング信号発生回路5を設ける。

請求項（抜粋）：

所定の複数のデータを並列出力する内部回路と、この内部回路からの複数のデータそれぞれと対応して設けられこれら複数のデータを外部回路へ出力するための複数の信号出力端子と、テスト信号がアクティブレベルのとき切換タイミング信号に従って前記内部回路からの複数のデータを所定期間内に順次前記複数の信号出力端子のうちの特定の1つの信号出力端子に伝達すると共に前記特定の1つの信号出力端子以外の信号出力端子の前記内部回路側を見たインピーダンスを高インピーダンス状態とし、前記テスト信号がインアクティブレベルのとき前記内部回路からの複数のデータそれぞれを対応する信号出力端子に伝達する出力データ切換回路と、前記テスト信号がアクティブレベルのとき所定のタイミングで前記切換タイミング信号を発生する切換タイミング信号発生回路とを有することを特徴とする半導体装置。

IPC (5件)：

G11C 29/00 303 , G01R 31/28 , G11C 11/401 , H01L 27/04 , H01L 21/822

FI (4件)：

G11C 29/00 303 B , G01R 31/28 V , G11C 11/34 362 G , H01L 27/04 T

引用特許：

審査官引用 (4件)

特開昭63-191400
特開昭62-289992
特開平4-168699

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