特許

J-GLOBAL ID：200903069909058606

表面の粉塵および汚れの程度を測定するための機器および方法

発明者： コウボネン, アリ
出願人/特許権者： アクト - アドバンスド クリーニング テクニクス アーベー
代理人 (1件)： 山本 秀策
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-591416
公開番号（公開出願番号）：特表2002-533717
出願日： 1999年12月17日
公開日（公表日）： 2002年10月08日
要約：

【要約】本発明は、例えば、清掃品質をモニタリングするために、表面(30)を粉塵または汚れが覆っている程度を測定するための、測定機器および方法に関し、この測定機器は、試験フィルム(3)の形態にある測定対象物が、測定されている間、この測定機器によって規定された測定ゾーン(4)において平面で保持されるホルダー(2)を備え、この試験フィルム(3)は、この表面(30)を試験している間、この表面から任意の粉塵および汚れの粒子(31)を採集するように意図された接着層(5)で覆われている。

請求項（抜粋）：

例えば、清掃品質をモニタリングするために、表面(30)を粉塵および汚れが覆っている程度を測定するための測定機器(1)であって、該測定機器は、試験フィルム(3)の形態にある測定対象物が、測定されている間、該測定機器によって規定された測定ゾーン(4)において平面で保持されるホルダー(2)を備え、該試験フィルム(3)は、この表面(30)を試験している間、この表面から任意の粉塵および汚れの粒子(31)を採集するように意図された接着層(5)で覆われており、該測定機器は、以下:-斜入射光で該試験フィルム(3)の該接着層(5)を照射するように意図された光源(6);-該試験フィルム(3)から反射した光の光度を記録するように意図された、光検出器(8);ならびに-表面(30)を粉塵および汚れが覆う程度を表す測定値(該測定値は、該光検出器(8)により記録される光度に基づく)を示すように意図された、プロセッサ(14)、によって特徴付けられる、測定機器。

IPC (2件)：

G01N 21/94 ,  G01N 1/02

FI (2件)：

G01N 21/94 ,  G01N 1/02 N

Fターム (12件)：

2G051AA90 ,  2G051AB01 ,  2G051BA10 ,  2G051CB01 ,  2G051CB02 ,  2G052AA04 ,  2G052AC12 ,  2G052AD15 ,  2G052AD55 ,  2G052BA13 ,  2G052GA11 ,  2G052JA02