蛍光・燐光測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：長谷川芳樹 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-276674
公開番号（公開出願番号）：特開平8-136458
出願日： 1994年11月10日
公開日（公表日）： 1996年05月31日
要約：

【要約】【目的】効率良く蛍光と燐光を測定することができる蛍光・燐光測定装置を提供する。【構成】高圧電源1によりパルス点灯される光源2から放射された光を分光器3が波長選択し、所定波長のパルス励起光hνを被測定物Mに照射する。被測定物Mから放射される光発光hν’を光電変換素子5が光電変換し、プリアンプ8が線形増幅した後、対数アンプ9が対数増幅する。A/D変換器10は、サンプリング周期決定回路11から出力される次第に対数関数的にパルス間隔が長くなるサンプリングクロックPsに同期して対数アンプ9の出力信号Sqをデジタルデータに変換し、演算制御部12へ供給する。そして、分光器3が選択波長を変化させる毎に同様の測定処理を繰り返し、演算制御部12は、得られたデジタルデータを統計処理等することにより、蛍光と燐光についての分光分布を演算する。

請求項（抜粋）：

被測定物に任意波長のパルス励起光を照射する励起光照射部と、前記被測定物から放射される光発光を受光して電気の測定信号に変換する光電変換部と、前記光電変換部から出力される測定信号を対数増幅する対数増幅部と、前記対数増幅部から出力される信号を所定のサンプリングタイミングに同期してデジタルデータに変換するアナログデジタル変換部と、前記アナログデジタル変換部のサンプリングタイミングを、前記光発光の発生初期から時間の経過とともに対数関数的に次第に長く設定するサンプリング周期決定部と、を備えることを特徴とする蛍光・燐光測定装置。

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