特許
J-GLOBAL ID：200903069963582515
テストパタン自動生成装置及びテストパタン自動生成方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
渡辺 喜平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-062144
公開番号（公開出願番号）：特開2000-258511
出願日： 1999年03月09日
公開日（公表日）： 2000年09月22日
要約：
【要約】【課題】 修正前回路と修正後の回路の差分を検出し、修正箇所を活性化しうるテストパタンを自動生成する装置及び方法を提供する。【解決手段】 修正箇所情報抽出手段106は、新回路情報102と旧回路情報101とに基づき修正箇所情報107の抽出を行う。修正箇所活性化パタン生成手段108は、修正箇所情報107と新回路情報102とに基づき修正箇所を活性化する修正箇所活性化パタン109を生成する。1chipATPG実行手段110は、新回路情報102に基づき、従来のATPGアルゴリズムを用いて1chipATPGテストパタン111を生成する。修正箇所活性化パタンマージ手段112は、上記1chipATPGテストパタン111と上記修正箇所活性化パタン109とをマージし、テストパタン114を生成する。このテストパタンは修正箇所を活性化するので、修正前後の回路を区別可能である。
請求項（抜粋）：
配線に修正を加えた電子回路をテストするテストパタンを生成するテストパタン自動生成装置において、前記修正を加える前の電子回路の情報である旧回路情報と、前記修正を加えた電子回路の情報である新回路情報とに基づき、修正された回路部分を求め、この修正された回路部分の情報である修正箇所情報を出力する修正箇所情報抽出手段と、前記修正箇所情報と、前記新回路情報とに基づき、前記修正を加えた電子回路中の修正箇所を活性化するテストパタンである修正箇所活性化パタンを出力する修正箇所活性化パタン生成手段と、前記新回路情報に基づき、前記修正を加えた電子回路をテストする原テストパタンを生成するテストパタン生成手段と、前記原テストパタンに前記修正箇所活性化パタンをマージすることによって、前記修正前の電子回路と、前記修正後の電子回路とを区別しうるテストパタンを生成する修正箇所活性化パタンマージ手段と、を含むことを特徴とするテストパタン自動生成装置。
IPC (3件)：
G01R 31/3183
, G06F 11/22 310
, G06F 17/50
G01R 31/28 Q
, G06F 11/22 310 B
, G06F 15/60 670 G
2G032AA00
, 2G032AD05
, 5B046AA08
, 5B046BA09
, 5B046JA04
, 5B048AA20
, 5B048DD05
