特許
J-GLOBAL ID:200903069993510845

半導体レーザダイオード

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 稲岡 耕作 ,  川崎 実夫
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2007-040074
公開番号(公開出願番号):特開2008-226865
出願日: 2007年02月20日
公開日(公表日): 2008年09月25日
要約:
【課題】レーザ発振効率を高め、閾値電流を低減することが可能な半導体レーザダイオードを提供する。【解決手段】ファブリペロー型の半導体レーザダイオード70は、基板1と、この基板1上に形成されたIII族窒化物半導体積層構造2とを含む。基板1は、m面を主面としたGaN単結晶基板である。III族窒化物半導体積層構造2が結晶成長させられている。III族窒化物半導体積層構造2は、m軸を結晶成長の主面としており、m軸方向に、n型半導体層11、発光層10、およびp型半導体層12を積層して構成されている。n型半導体層11はn型AlGaNクラッド層14を含み、p型半導体層12はp型AlGaNクラッド層18を含む。リッジストライプ20は、c軸に平行であり、一対の共振器端面21,22は、+c面と-c面である。【選択図】図1
請求項(抜粋):
m面を結晶成長の主面とするIII族窒化物半導体からなり、m軸方向に、n型クラッド層、発光層、およびp型クラッド層を積層したIII族窒化物半導体積層構造を備えた、半導体レーザダイオード。
IPC (1件):
H01S 5/22
FI (1件):
H01S5/22
Fターム (6件):
5F173AA08 ,  5F173AF20 ,  5F173AF40 ,  5F173AH22 ,  5F173AQ01 ,  5F173AR23
引用特許:
審査官引用 (1件)

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