特許
J-GLOBAL ID：200903070028762759
はんだ付け良否判定方法、はんだ付け良否判定装置、はんだ付け良否判定システム、プリント基板製造システム及びプログラム
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
黒田 壽
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-283485
公開番号（公開出願番号）：特開2004-117276
出願日： 2002年09月27日
公開日（公表日）： 2004年04月15日
要約：
【課題】プリント基板に対して傾いた状態で半田付けされた実装部品を正確に検出するために半田フィレットの良否判定の精度を向上させることである。【解決手段】XYテーブルを駆動制御して、高速カメラの撮像領域内にPCB上のコンデンサを移動させ、各光源からそれぞれRGBの光をPCBに対して照射する。その反射光を高速カメラによって撮像すると、反射面の傾斜角度に応じて色分けされた画像を得ることができる。このとき、コンデンサの2つの電極の外側に正常に半田フィレットが形成されていれば、その半田フィレット部分は青色で示されることになる。ここで、本方法では、電極両側に存在する青色領域の画素数の和Slを算出した後、その和が8画素よりも大きい場合には、そのコンデンサの半田フィレットは良品であると判定する。これにより、コンデンサごとに半田フィレットの良否を高い精度で判定することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
プリント基板上における実装部品のはんだ付けの良否を判定するはんだ付け良否判定方法において、
単一の実装部品をプリント基板上にはんだ付けする複数のはんだフィレットの外形を総合して、該単一の実装部品のはんだ付けの良否を判定する判定工程を有することを特徴とするはんだ付け良否判定方法。
IPC (3件)：
G01N21/956
, B23K1/00
, H05K3/34
G01N21/956 B
, B23K1/00 A
, H05K3/34 512B
2G051AA65
, 2G051AB14
, 2G051BB01
, 2G051CA04
, 2G051DA05
, 2G051EA17
, 2G051EB01
, 2G051EC02
, 5E319AA03
, 5E319AC01
, 5E319CD53
, 5E319GG15
