特許
J-GLOBAL ID：200903070032726880
液晶表示素子の電極間の短絡検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
中村 純之助
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-134386
公開番号（公開出願番号）：特開平6-347812
出願日： 1993年06月04日
公開日（公表日）： 1994年12月22日
要約：
【要約】【構成】第1の間隔で配列された複数本の端子(320)から成り、テープキャリアパッケージがそれぞれ接続される端子群(TCP1、TCP2)の一番端に位置し、前記第1の間隔より広い間隔で配列された端子(320a、320b)の一方の端子(320b)の隣に、前記第1の間隔を置いて検査用端子(1)を設け、かつ、後で切り捨てる基板の余剰部分(122)上に設けた接続配線(2)を介して検査用端子(1)と端子(320a)とを接続した構成。【効果】間隔が全て同一でない電極間の短絡の有無を容易にもれなく検査でき、また、使用する基板の余剰部分の面積が少なくて済み、かつ、余剰部分上で電極間の短絡が生じず、歩留りを向上できる。また、検査用端子は基板切断後、電極基板の内部と電気的に切れるため、液晶表示に悪影響を与えない。
請求項（抜粋）：
それぞれ端子を有する表示用電極をそれぞれ対向する面上に設けた2枚の基板を所定の間隙を隔てて重ね合わせ、前記両基板間の縁周囲に設けたシール材により、前記両基板を貼り合わせると共に前記両基板間に液晶を封止し、前記シール材の外側の前記基板の面上に第1の間隔を隔てて配列した複数本の端子から成る端子群を複数個有し、前記端子群どうしを前記第1の間隔より広い第2の間隔を隔てて配列して成る液晶表示素子の前記端子群上に、前記第1の間隔とほぼ同一の間隔を隔てて形成された少なくとも2本の検査用プローブ端子を前記端子の配列を横切る方向にすべらせて前記電極間の短絡の有無を検査する方法において、前記第2の間隔を隔てて配列された隣接する前記端子群のそれぞれ一番端に位置する2個1組の端子の一方に隣接して前記第1の間隔を隔てて検査用端子を配列し、前記検査用端子と前記2個1組の他方の端子とを、後で切断分離すべき前記基板の余剰部分上を介して電気的に接続したことを特徴とする液晶表示素子の電極間の短絡検査方法。
IPC (3件)：
G02F 1/1343
, G01R 31/02
, G02F 1/1345
