特許

J-GLOBAL ID：200903070145950043

探傷装置

発明者： 前田 茂樹 ,  広島 一彦
出願人/特許権者： 前田 茂樹 ,  株式会社不二コーン製作所 ,  日立電線株式会社
代理人 (1件)： 香山 秀幸
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-340308
公開番号（公開出願番号）：特開平5-149894
出願日： 1991年11月28日
公開日（公表日）： 1993年06月15日
要約：

【要約】【目的】 この発明は、被検査体の移動速度が速くても、正確な欠陥検出ができる探傷装置を提供することを目的とする。【構成】 横断面円形または環状の被検査体の表面に光を照射する投光手段と、上記被検査体表面からの反射光を受光するための受光手段とを備え、上記受光手段の出力に基づいて上記被検査体の欠陥を検出する探傷装置において、上記被検査体表面の全角度範囲が複数に分割された各角度範囲ごとに光を照射するための複数の投光手段を備え、これら複数の投光手段によって上記被検査体表面の全角度範囲が照射される。

請求項（抜粋）：

横断面円形または環状の被検査体の表面に光を照射する投光手段と、上記被検査体表面からの反射光を受光するための受光手段とを備え、上記受光手段の出力に基づいて上記被検査体の欠陥を検出する探傷装置において、上記被検査体表面の全角度範囲が複数に分割された各角度範囲ごとに光を照射するための複数の投光手段を備え、これら複数の投光手段によって上記被検査体表面の全角度範囲が照射されることを特徴とする探傷装置。

IPC (3件)：

G01N 21/89 ,  G01B 11/30 ,  G01N 21/88