特許
J-GLOBAL ID：200903070165610222
皮膚表面形態の評価方法及び装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
遠山 勉 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-185527
公開番号（公開出願番号）：特開平5-146412
出願日： 1991年06月28日
公開日（公表日）： 1993年06月15日
要約：
【要約】【目的】一般のユーザであっても、皮膚表面形態の状態を容易に評価することのできる皮膚表面形態の測定方法及びそのための装置を提供する。【構成】皮膚表面または皮膚レプリカから皮膚表面の凹凸データを得る読取手段と、この読取手段により得られた凹凸データを多段階の階層を有する信号に変換する変換手段と、この変換手段により変換された信号に対して波形処理を施す処理手段と、この処理手段により波形処理された信号を周波数変調する変調手段と、この変調手段により変調された信号を音として出力する出力手段とを備えたことを特徴とする。
請求項（抜粋）：
皮膚表面または皮膚レプリカから皮膚表面の凹凸データを得て、得られた凹凸データを多段階の階層を有する信号に変換し、変換された信号に対して波形処理を施し、波形処理された信号を周波数変調し、変調された信号を音として出力することを特徴とする皮膚表面形態の評価方法。
IPC (2件)：
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