特許

J-GLOBAL ID：200903070169050191

フィルムの中の欠点分析方法

発明者： 細井 正広 ,  名越 民明
出願人/特許権者： 帝人株式会社
代理人 (1件)： 前田 純博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-089960
公開番号（公開出願番号）：特開平11-287767
出願日： 1998年04月02日
公開日（公表日）： 1999年10月19日
要約：

【要約】【課題】 溶液からフィルムを製造する際にフィルムに発生する各種の異物を溶液の段階で迅速に測定して、異物によるフィルム欠点を容易に解消する方法を提供する。【解決手段】 溶液に光線を投射することによって、その反射光により、溶液の持っている異物の像を得、この像を処理解析して、この溶液を使用して溶液流延法によって製造されるフィルム中の欠点を分析する。

請求項（抜粋）：

溶液に光線を投射し、当該光線の投射方向に対し90±15 ゚を成す面上の方向から異物による当該光線の反射を観察することにより、溶液が含んでいる異物の像を得ることを特徴とする、当該溶液の溶液流延法によるフィルム中の欠点分析方法。

IPC (5件)：

G01N 21/89 ,  B29C 41/24 ,  B29C 41/52 ,  B29K 69:00 ,  B29L 7:00

FI (3件)：

G01N 21/89 A ,  B29C 41/24 ,  B29C 41/52