特許
J-GLOBAL ID：200903070174404180
レ-ルの断面形状測定方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 英彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-302926
公開番号（公開出願番号）：特開平11-142124
出願日： 1997年11月05日
公開日（公表日）： 1999年05月28日
要約：
【要約】【課題】 高速で走行させながら、高精度にレ-ルの断面形状を測定することができるレ-ルの断面形状測定方法及び装置を提供する。【解決手段】 レ-ルの頭部の上面及び内側面等の測定部分に平面光を照射する光源14、光源14からの平面光が照射されているレ-ルの測定部分の撮像情報を出力するカメラ15、レ-ルの2箇所の基準部分に平面光を照射する光源16、17、レ-ルの各基準部分の撮像情報を出力するカメラ18を測定車等に設置する。光源14、16、17の光源パラメ-タ及びカメラ15、18のカメラパラメ-タを予め求めておき、カメラ15からの撮像情報に基づいてレ-ルの測定部分の座標を求め、カメラ18からの撮像情報に基づいてレ-ルの各基準部分の基準点の座標を求める。そして、レ-ルの基準部分の基準点の座標に基づいてレ-ルの方向ベクトルを求め、レ-ルの測定部分をレ-ルの方向ベクトルに直角な平面上に投影することによってレ-ルの測定部分の断面形状を測定する。
請求項（抜粋）：
平面光が照射されているレ-ルの測定部分の撮像情報及び前記レ-ルの方向ベクトルに基づいて前記レ-ルの測定部分の断面の形状を測定するレ-ルの断面形状測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
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