特許
J-GLOBAL ID:200903070175381337
化学増幅レジスト用単量体、化学増幅レジスト用重合体、化学増幅レジスト組成物、パターン形成方法
発明者:
,
出願人/特許権者:
代理人 (1件):
金田 暢之 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2001-394173
公開番号(公開出願番号):特開2003-064131
出願日: 2001年12月26日
公開日(公表日): 2003年03月05日
要約:
【要約】【課題】220nm以下の光に対する光透明性が高く、エッチング耐性が高く、基板密着性に優れた化学増幅レジストを提供する。【解決手段】少なくとも下記一般式(I)で表される3-オキソ-4-オキサビシクロ[3.2.1]オクタン-2-イルを有する基により置換されたビニル重合体を用いて、化学増幅レジストを調製する。【化1】(式中、L1〜L6は独立に水素または炭素数1〜8のアルキル基を表し、L5及びL6は互いにつながり環を形成する炭素数1〜10のアルキレン基でもよい。)
請求項(抜粋):
下記一般式(I)で表される3-オキソ-4-オキサビシクロ[3.2.1]オクタン-2-イル基を有するビニル単量体よりなる化学増幅レジスト用単量体。【化1】(式中、L1〜L6は独立に水素または炭素数1〜8のアルキル基を表し、L5及びL6は互いにつながり環を形成する炭素数1〜10のアルキレン基でもよい。)
IPC (5件):
C08F 20/28
, C07D311/00
, C08F 32/04
, G03F 7/039 601
, H01L 21/027
FI (5件):
C08F 20/28
, C07D311/00
, C08F 32/04
, G03F 7/039 601
, H01L 21/30 502 R
Fターム (39件):
2H025AA09
, 2H025AA14
, 2H025AB16
, 2H025AC04
, 2H025AC08
, 2H025AD03
, 2H025BE00
, 2H025BG00
, 2H025FA03
, 2H025FA12
, 2H025FA17
, 4C062KK03
, 4J100AK32R
, 4J100AL08P
, 4J100AL08Q
, 4J100AL08R
, 4J100AR09Q
, 4J100AR11P
, 4J100AR11Q
, 4J100BA03R
, 4J100BA11P
, 4J100BA11Q
, 4J100BA11R
, 4J100BA15P
, 4J100BA15Q
, 4J100BA20Q
, 4J100BC09Q
, 4J100BC09R
, 4J100BC12Q
, 4J100BC53P
, 4J100BC53Q
, 4J100BC53R
, 4J100CA01
, 4J100CA04
, 4J100CA05
, 4J100DA01
, 4J100DA36
, 4J100DA62
, 4J100JA38
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