特許
J-GLOBAL ID：200903070190876075
自動分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
服部 雅紀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-211806
公開番号（公開出願番号）：特開平5-052774
出願日： 1991年08月23日
公開日（公表日）： 1993年03月02日
要約：
【要約】【目的】 複数の試料について連続的に高検出度で分析可能な自動分析装置を提供する。【構成】 液体試料を担持可能な金属フィルム3をフィルム供給部1とフィルム巻取り部2により搬送する。マイクロピペット10から金属フィルム3上に液体試料が点滴される。金属フィルム3上の液体試料は、乾燥器11により乾燥され固着される。固着された試料は、X線発生部12から照射される。試料からの蛍光X線スペクトルは計数部13により計数される。制御装置14は、計数部13からの入力信号に基づいて複数の試料を連続的に蛍光X線分析する。この自動分析装置によると、測定元素の制限はなく、少量分析も可能で、検出感度が高く、連続的に多数の試料を分析可能である。
請求項（抜粋）：
液体試料を担持可能な担持体と、前記担持体を搬送する担持体駆動部と、前記担持体上に液体試料を点滴する液体試料供給部と、前記担持体上の液体試料を乾燥して固着する乾燥部と、前記固着された試料にX線を照射するX線発生部と、X線スペクトルを検出する検出部と、前記担持体駆動部、前記液体試料供給部、前記乾燥部および前記X線発生部の1つ以上を制御し、かつ前記検出部からの入力信号に基づき複数の試料を蛍光X線分析する制御装置とを備えたことを特徴とする自動分析装置。
引用特許：
前のページに戻る
