特許
J-GLOBAL ID：200903070194212066

特徴点検出装置、特徴点検出方法および特徴点検出プログラム

発明者：
木下 航一

木下 航一 について


出願人/特許権者：
オムロン株式会社

オムロン株式会社 について


代理人 (3件)： 世良 和信 ,  和久田 純一 ,  中村 剛
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-068047
公開番号（公開出願番号）：特開2007-249280
出願日： 2006年03月13日
公開日（公表日）： 2007年09月27日
要約：
【課題】画像から特徴点の位置を高速に検出することを可能とする。【解決手段】学習画像を用いて、各ノードが特徴点の正しい位置に配置された正解モデルと、いずれかのノードが誤った位置に配置された誤差モデルとの差、及び誤差モデルに基づいて取得されたノード特徴量、についての相関関係の情報を予め取得しておく。入力画像から特徴点を検出する際には、複数のノードの3次元位置を定めた3次元モデルを作成し、各ノードを入力画像上に投影し、投影点からノード特徴量を取得し、このノード特徴量と学習した相関関係の情報に基づいて、現在の各ノードの位置と対応する特徴点の位置とのずれを示す誤差推定量を取得し、この誤差推定量と現在の各ノードの位置に基づいて、入力画像における各特徴点の3次元位置を推定する。【選択図】図5
請求項（抜粋）：
入力された画像から、所定の対象物の画像における複数の特徴点の3次元位置を推定する特徴点検出装置であって、 前記複数の特徴点にそれぞれ対応する複数のノードの3次元位置を定めた3次元モデルを作成するモデル作成手段と、 前記3次元モデルによって定められた各ノードを前記画像上に射影する射影手段と、 前記3次元モデルの各ノードのノード特徴量として、前記射影手段によって射影された各ノードの射影点の周囲の複数のサンプリング点から特徴量を取得する特徴量取得手段と、 学習用の画像において、複数のノードがそれぞれ対応する特徴点の正しい位置に3次元配置された正解モデルと、複数のノードのうちの少なくともいずれかが対応する特徴点の正しい位置からずれた位置に3次元配置された誤差モデルとの差、及び、前記誤差モデルを学習用の画像に射影した射影点から取得されるノード特徴量、についての相関関係の情報を予め記憶している記憶手段と、 前記記憶手段に記憶される前記相関関係の情報と、前記特徴量取得手段によって取得された各ノードのノード特徴量とに基づいて、現在の3次元モデルとそれぞれに対応する特徴点の位置のずれを示す誤差推定量を取得する誤差推定量取得手段と、 前記誤差推定量取得手段によって得られた誤差推定量と、現在の3次元モデルとに基づいて、入力された画像における各特徴点の3次元位置を推定する推定手段とを備える特徴点検出装置。
IPC (3件)：
G06T 7/60 ,  G06T 7/00 ,  G06T 1/00
FI (4件)：
G06T7/60 150D ,  G06T7/00 350B ,  G06T7/00 300E ,  G06T1/00 340A
Fターム (35件)：
5B057AA20 ,  5B057BA02 ,  5B057BA29 ,  5B057DA07 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC16 ,  5B057DC25 ,  5B057DC30 ,  5B057DC36 ,  5B057DC40 ,  5L096BA18 ,  5L096CA02 ,  5L096CA14 ,  5L096EA13 ,  5L096FA09 ,  5L096FA32 ,  5L096FA33 ,  5L096FA34 ,  5L096FA38 ,  5L096FA60 ,  5L096FA62 ,  5L096FA64 ,  5L096FA66 ,  5L096FA67 ,  5L096FA69 ,  5L096GA51 ,  5L096GA55 ,  5L096GA59 ,  5L096HA09 ,  5L096HA11 ,  5L096JA09 ,  5L096JA11 ,  5L096KA04
引用特許：
出願人引用 (3件)
引用文献：
審査官引用 (2件)

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