特許

J-GLOBAL ID：200903070215203330

旋光度測定装置

発明者： 阿河 昌弘 ,  三好 浩二 ,  藤本 光輝
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 早瀬 憲一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-213142
公開番号（公開出願番号）：特開2000-046731
出願日： 1998年07月28日
公開日（公表日）： 2000年02月18日
要約：

【要約】【課題】 溶液中の旋光性物質の濃度や旋光度を測定するための、小型,高精度な旋光度測定装置を提供する。【解決手段】 サンプルセル17を通過した光が光反射部14の1つに鏡対25で2回反射した後、再度サンプルセル17内に入射するようにした。

請求項（抜粋）：

偏光された光源からの光を旋光性物質に入射させ、その透過光中の予め定められた成分を受光素子で受光し、その受光素子の出力レベルに基づいて旋光性物質の旋光度を測定する装置において、旋光性物質から一度出射された光を、偶数回反射させて再度旋光性物質に入射させることにより、旋光性物質中を通過する光の光路長を長くし、旋光度を増大するようにしたことを特徴とする旋光度測定装置。

Fターム (10件)：

2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059EE05 ,  2G059GG01 ,  2G059GG04 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ19 ,  2G059LL03 ,  2G059MM01