特許

J-GLOBAL ID：200903070296506633

減衰率補正方法及び分光光度計

発明者： 櫛田 芳昭 ,  鈴木 忠 ,  河原井 直美 ,  江畠 佳定 ,  佐藤 節子
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立サイエンスシステムズ
代理人 (1件)： 春日 讓
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-016569
公開番号（公開出願番号）：特開2001-208679
出願日： 2000年01月26日
公開日（公表日）： 2001年08月03日
要約：

【要約】【課題】減光板を使用する測定を正確かつ容易に行える減衰率補正方法及び分光光度計を提供することにある。【解決手段】光源W1,D2からの光は、分光器MO1,MO2によって分光された後、サンプル光と対照光にする分岐し、光検出器PMTによって検出される。データ処理部DPは、光検出器PMTによって検出されたサンプル信号と対照信号とからサンプルの透過率を求めるに際して、対照光路に挿入された減光板の所定の波長について減衰率を求めて記憶し、サンプルの測定結果に対してこの記憶された減衰率を用いて補正する。

請求項（抜粋）：

対照光路に挿入された減光板の所定の波長について減衰率を求めて記憶し、サンプルの測定結果に対してこの記憶された減衰率を用いて補正した補正結果を求める減衰率補正方法。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01J 3/02

FI (2件)：

G01N 21/27 F ,  G01J 3/02 C

Fターム (35件)：

2G020CB05 ,  2G020CB25 ,  2G020CB33 ,  2G020CB43 ,  2G020CB51 ,  2G020CC02 ,  2G020CC13 ,  2G020CC31 ,  2G020CC42 ,  2G020CC48 ,  2G020CC51 ,  2G020CD23 ,  2G020CD34 ,  2G020CD37 ,  2G020CD38 ,  2G020CD51 ,  2G020CD56 ,  2G059AA10 ,  2G059BB08 ,  2G059EE01 ,  2G059EE11 ,  2G059FF06 ,  2G059FF09 ,  2G059HH03 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ22 ,  2G059JJ24 ,  2G059JJ25 ,  2G059KK02 ,  2G059MM10 ,  2G059MM14 ,  2G059MM17 ,  2G059PP04

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 光測定器における被測定光の波長検出装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-274716   出願人：安藤電気株式会社
• 特開昭62-090524
  
• 調整可能な励起及び/又は調整可能な検出マイクロプレートリーダー
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-276948   出願人：バイオ-ラッドラボラトリーズ,インコーポレイティド