特許
J-GLOBAL ID:200903070350968516

大気環境調査方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 中本 宏 (外2名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平4-265537
公開番号(公開出願番号):特開平6-094654
出願日: 1992年09月09日
公開日(公表日): 1994年04月08日
要約:
【要約】【目的】 大気環境を容易に評価する方法を提供する。【構成】 表面が平滑な基板上に単体金属及び合金の少なくとも1種を成膜した板を測定したい大気中に保持し、この金属表面に生成した大気中元素を分析する、大気環境の調査方法。分析手段としては(全反射)蛍光X線分析法等がある。特に大気中の硫黄及び塩素の分析に有用である。【効果】 通信機器やOA機器等への大気の影響を温度、湿度の効果まで取り入れた実際に近い状態で容易、短期間にかつ高精度に把握することが可能である。
請求項(抜粋):
表面が平滑な基板上に単体金属及び合金の少なくとも1種を成膜した板を測定したい大気中に保持し、この金属表面に生成した大気中元素を分析することを特徴とする大気環境の調査方法。

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