特許
J-GLOBAL ID：200903070373818600
リード曲り検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
内原 晋
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-170835
公開番号（公開出願番号）：特開平5-021560
出願日： 1991年07月11日
公開日（公表日）： 1993年01月29日
要約：
【要約】【目的】設置面積を小さく、かつ操作性が優れ、より安価にする。【構成】半導体装置2の側面より突出するリード4先端部4aからの光像を4bからの光像と同一方向に反射させるミラー1を設け、一台のカメラ3でリード4の先端部4a及び平面部を撮像する。
請求項（抜粋）：
半導体装置の側面より突出する複数のリードの先端部の光像をリードの先端部と直角をなす平面部の光像と同一方向に反射するミラーを備え、前記先端部の光像及び前記平面部の光像とを1台のカメラで撮像することを特徴とするリード曲り検査装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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