特許
J-GLOBAL ID：200903070449321115
エッジ位置計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小堀 益 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-024108
公開番号（公開出願番号）：特開平10-221012
出願日： 1997年02月06日
公開日（公表日）： 1998年08月21日
要約：
【要約】【課題】 反射表面の位置の変化にかかわらず、常にぼけの無い画像を得られるようにすること。【解決手段】 ブレード2のエッジ2aを含む領域に直線状にレーザー光を照射し、ブレード2をカメラ8で撮像し、撮像画像に基づいて計測対象物のエッジ2アの位置を計測するエッジ位置計測方法において、カメラ8の撮像方向を、エッジ2aに対するレーザー光の入射方向に対してほぼ90°の方向に設置してエッジ2aをカメラ8で撮像する。
請求項（抜粋）：
計測対象物のエッジを含む領域に直線状にレーザー光を照射し、前記エッジをカメラで撮像し、撮像画像に基づいて計測対象物のエッジの位置を計測するエッジ位置計測方法において、前記カメラの撮像方向を、前記エッジに対するレーザー光の入射方向に対してほぼ90°の方向に設置して前記エッジを前記カメラで撮像することを特徴とするエッジ位置計測方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B 11/00 B
, G01C 3/06 A
