可視光線スペクトル/近赤外線スペクトルにより果物の特性を測定し、相互に関連付けるための装置および方法

発明者：
出願人/特許権者： ,
代理人 (1件)：恩田博宣 (外1名)
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-568026
公開番号（公開出願番号）：特表2003-527594
出願日： 2001年03月12日
公開日（公表日）： 2003年09月16日
要約：

【要約】本発明は、1)例えば、果物を含むN-H、C-HおよびO-Hサンプル内の、例えば、表面および表面の下の傷、傷痕、日焼け、刺し孔を含む、例えば、ブリックス、固さ、酸味、密度、pH、色、外部および内部の欠陥および異常のような1つまたは複数のパラメータを測定または予測するための、250〜1150nmびスペクトルの使用、2)少なくとも1つのスペクトル範囲内、好ましい実施形態の場合には、250〜499nmおよび500〜1150nmの少なくとも2つのスペクトル範囲内の、上記スペクトルで照射したサンプルからの放射光を検出するための装置および方法、3)上記パラメータの中の1つまたはそれ以上を予測するために、700nmおよびそれ以上からのスペクトルと一緒に、680nmのところにピークを持つ葉緑素吸収帯の使用、4)上記パラメータのすべてを予測するための、葉緑素吸収帯および700nmおよびそれ以上のスペクトルと一緒に、約250〜499nmのキサントフィル、および約500〜550nmのアントシアニンを含む可視色素領域の使用に関する。

請求項（抜粋）：

A.サンプルの特性と、内部を有したサンプルからの吸収光および散乱光との間の関係アルゴリズムを生成する工程と、 B.サンプルの前記内部を、ある周波数のスペクトルで照射する工程と、 C.前記サンプルからの吸収光および散乱光のスペクトルを検出する工程と、 D.前記サンプルの前記特性を計算する工程とからなるサンプルの特性を測定するための方法。

IPC (3件)：

G01N 21/27 , G01N 21/35 , G01N 21/85

FI (3件)：

G01N 21/27 Z , G01N 21/35 Z , G01N 21/85 A

Fターム (36件)：

2G051AA05 , 2G051AB07 , 2G051AC04 , 2G051AC21 , 2G051BA04 , 2G051BA06 , 2G051BA08 , 2G051BB17 , 2G051CB05 , 2G059AA01 , 2G059AA05 , 2G059BB11 , 2G059DD12 , 2G059DD13 , 2G059EE01 , 2G059EE02 , 2G059EE05 , 2G059EE12 , 2G059FF08 , 2G059GG02 , 2G059GG04 , 2G059GG10 , 2G059HH01 , 2G059HH02 , 2G059HH06 , 2G059JJ02 , 2G059JJ11 , 2G059JJ17 , 2G059JJ19 , 2G059JJ23 , 2G059KK01 , 2G059KK03 , 2G059KK04 , 2G059MM09 , 2G059MM10 , 2G059MM14

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