特許
J-GLOBAL ID：200903070591398656
レーザ回折・散乱式粒度分布測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
倉内 義朗
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-358080
公開番号（公開出願番号）：特開平11-183356
出願日： 1997年12月25日
公開日（公表日）： 1999年07月09日
要約：
【要約】【課題】 測定装置のハード的な条件や、プログラム条件の設定を簡単な操作によって可能とし、熟練を要さなくとも任意の粒子群について正確な測定が可能なレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置を提供する。【解決手段】 複数種のサンプルのそれぞれに対応して、前処理条件、測定条件等の粒度分布測定に際して必要な条件をデータベース化して記憶手段44に記憶しておき、選択手段46でサンプルを選択することにより、それに対応した諸条件が自動的に設定されるようにする。
請求項（抜粋）：
分散状態の被測定粒子群にレーザ光を照射して得られる回折・散乱光の空間強度分布を測定し、その測定結果を被測定粒子群の粒度分布に換算するレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置において、測定対象となる複数種のサンプルのそれぞれに対応して、少なくとも前処理条件および測定条件を含む、当該装置を用いた各サンプルの粒度分布測定に際して必要な条件をデータベース化して記憶する記憶手段と、その記憶手段のなかから任意のサンプルを選択する選択手段と、その選択されたサンプルに対応するデータベース内の条件を当該装置に設定する条件自動設定手段を備えていることを特徴とするレーザ回折・散乱式粒度分布測定装置。
引用特許：
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