特許

J-GLOBAL ID：200903070594644828

電子部品試験装置

発明者： 菊池 有朋 ,  中村 浩人
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： とこしえ特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-336030
公開番号（公開出願番号）：特開2007-064991
出願日： 2006年12月13日
公開日（公表日）： 2007年03月15日
要約：

【課題】被試験電子部品とテストヘッドのコンタクト部とのミスコンタクトを防止することが可能な電子部品試験装置を提供することを目的とする。【解決手段】電子部品試験装置1は、ICデバイスを保持するコンタクトアーム420と、コンタクトアーム420を移動させる移動装置と、コンタクトアーム420に保持されたICデバイスの、ソケット50に対する相対位置を認識する位置認識手段と、位置認識手段により認識されたICデバイスの相対位置に基づいてコンタクトアーム420の位置を補正する位置補正手段と、位置認識手段によるICデバイスの相対位置の認識の際に、コンタクトアーム420を装置基台11に拘束するための位置決めシャフト414及び嵌合部材436と、を備えている。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

被試験電子部品を保持してテストヘッドのコンタクト部に前記被試験電子部品を接触させるコンタクトアームと、 装置基台側に設けられて前記コンタクトアームを移動させる移動手段と、を備えた電子部品試験装置であって、 前記コンタクトアームに保持された前記被試験電子部品の、前記コンタクト部に対する相対位置を認識する位置認識手段と、 前記位置認識手段により認識された前記被試験電子部品の相対位置に基づいて、前記被試験電子部品を保持した前記コンタクトアームの位置を補正する位置補正手段と、 前記位置認識手段による前記被試験電子部品の相対位置の認識の際に、前記コンタクトアームを前記装置基台に拘束する第1の拘束手段と、をさらに備えた電子部品試験装置。

IPC (1件)：

G01R 31/26

FI (3件)：

G01R31/26 Z ,  G01R31/26 H ,  G01R31/26 J

Fターム (8件)：

2G003AA07 ,  2G003AD03 ,  2G003AG01 ,  2G003AG11 ,  2G003AG14 ,  2G003AG16 ,  2G003AH01 ,  2G003AH04

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 国際公開第03/075023号パンフレット