特許
J-GLOBAL ID：200903070595034918
周波数分析方法及び周波数分析装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
武 顕次郎 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-226027
公開番号（公開出願番号）：特開2000-055949
出願日： 1998年08月10日
公開日（公表日）： 2000年02月25日
要約：
【要約】【課題】 高精度の周波数分析を実現できる周波数分析方法及び周波数分析装置の提供。【解決手段】 サンプリング周波数発生器3で発生させた所定のサンプリング周波数でサンプリングされたディジタル信号を補間手段7で補間して、サンプリング周波数が異なる信号に変換し、フーリエ変換手段8でフーリエ変換をおこなって、任意の周波数成分について、該変換による周波数成分の漏れを調べ、その洩れを最小にするサンプリング周波数を選定し、演算手段9により該周波数成分の周波数、振幅、位相を決定する。
請求項（抜粋）：
所定のサンプリング周波数でサンプリングされたディジタル信号を補間して、サンプリング周波数が異なる信号に変換し、フーリエ変換をおこなって、任意の周波数成分について、該変換による周波数成分の漏れを調べ、その洩れを最小にするサンプリング周波数を選定することにより、該周波数成分の周波数、振幅、位相を決定することを特徴とする周波数分析方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01R 23/16 B
, G06F 15/332 A
5B056AA00
, 5B056BB12
, 5B056BB52
, 5B056HH05
