特許
J-GLOBAL ID：200903070641802259
眼科測定装置
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-165372
公開番号（公開出願番号）：特開2005-342204
出願日： 2004年06月03日
公開日（公表日）： 2005年12月15日
要約：
【課題】 簡単な構成で被検眼の眼軸長と屈折力の測定を短時間で同時に行うことができる眼科測定装置を提供する。【解決手段】 被検眼の屈折力と眼軸長を非接触にて測定する眼科測定装置において、被検眼に向けて低コヒーレント長の測定光を照射する測定光照射光学系と、測定光による被検眼眼底からの反射光を受光する受光光学系と、受光光学系にて受光した前記反射光の受光状態に基づいて被検眼の屈折力を求める屈折力測定手段と、被検眼に向けて低コヒーレンスな光を被検眼に照射するとともに照射によって得られる被検眼の角膜の反射光を参照光とし,参照光と測定光照射光学系によって得られる被検眼眼底からの反射光とを合成して干渉させ,その干渉光を受光する干渉光学系と、干渉光学系にて得られる干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定手段と、を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
被検眼の屈折力と眼軸長を非接触にて測定する眼科測定装置において、被検眼に向けて低コヒーレント長の測定光を照射する測定光照射光学系と、前記測定光による被検眼眼底からの反射光を受光する受光光学系と、受光光学系にて受光した前記反射光の受光状態に基づいて被検眼の屈折力を求める屈折力測定手段と、被検眼に向けて低コヒーレンスな光を被検眼に照射するとともに該照射によって得られる前記被検眼の角膜の反射光を参照光とし,該参照光と前記測定光照射光学系によって得られる前記被検眼眼底からの反射光とを合成して干渉させ,その干渉光を受光する干渉光学系と、該干渉光学系にて得られる干渉信号に基づいて被検眼の眼軸長を測定する眼軸長測定手段と、を備えることを特徴とする眼科測定装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
引用特許：
出願人引用 (1件)
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被測定眼寸法測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平6-048523
出願人：株式会社トプコン
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