特許

J-GLOBAL ID：200903070641943340

粒子測定装置

発明者： 斉藤 厚志
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 日比谷 征彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-254607
公開番号（公開出願番号）：特開平5-066194
出願日： 1991年09月06日
公開日（公表日）： 1993年03月19日
要約：

【要約】【目的】 同一の検体粒子を2回測定して高精度の測定を行う。【構成】 レーザー光源2a及び2bからのレーザー光はそれぞれ第1及び第2の照射位置A、Bで検体粒子Sを照射し、その散乱光・蛍光は光検出器4a及び4bで検出される。予め、検体粒子Sが照射位置AからBまで移動する時間toが計算によって推定されており、光検出器4aからの信号が入力された時刻から時間to後にアナログスイッチ7をオン状態に制御すると、第2の照射位置Bでの散乱光・蛍光を光検出器4bで検出する。

請求項（抜粋）：

フローセル内を流通する検体粒子に照射した照射光の散乱光又は蛍光を受光して検体粒子の解析を行う粒子測定装置であって、流通方向に間隔を隔てた第1の照射位置又は第2の照射位置で検体粒子に光を照射する照射手段と、前記第1の照射位置と前記第2の照射位置における散乱光又は蛍光を個別に検出する検出手段と、前記第1の照射位置で前記照射手段によって照射された検体粒子が前記第2の照射位置を通過する場合にのみ、前記検出手段が前記第2の照射位置における散乱光又は蛍光を検出するように前記検出手段を制御する制御手段とを有することを特徴とする粒子測定装置。