電子方位計

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：大菅義之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-322728
公開番号（公開出願番号）：特開平5-157566
出願日： 1991年12月06日
公開日（公表日）： 1993年06月22日
要約：

【要約】【目的】本発明の目的は、磁気センサのヒステリシスなどによる方位の測定誤差を少なくすることである。【構成】正、負のバイアス磁界が印加されたときの磁気抵抗素子17、18の出力電圧はコンデンサC1、C2及びコンデンサC3、C4に保持され、それぞれの電圧差がオペアンプ15、16で演算される。オペアンプ15、16の出力電圧の一部は交流のバイアス電圧を供給するオペアンプ13、14の-入力端子に帰還されており、この帰還によりオペアンプ15、16の出力電圧を小さくする方向、すなわちコンデンサC1、C2及びコンデンサC3、C4の電圧差を小さくする方向のバイアス電圧がオペアンプ13、14から出力される。これにより、交流バイアス磁界に外部磁界を打ち消す方向の直流バイアス磁界が加算されて磁気抵抗素子17、18に印加される。

請求項（抜粋）：

少なくとも2個の磁気センサと、前記磁気センサに交流のバイアス磁界を印加する交流バイアス印加手段と、前記バイアス磁界印加手段により正のバイアス磁界が印加されたときの前記磁気センサの出力と、負のバイアス磁界が印加されたときの出力との差を検出する検出手段と、前記検出手段の出力に応じて前記磁気センサに加わる外部磁界を打ち消す方向の直流磁界を前記磁気センサに印加する直流バイアス印加手段とを備えることを特徴とする電子方位計。

引用特許：

審査官引用 (2件)

特開昭58-071407
特開昭58-028611

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